MLCC出现容值偏低

MLCC是目前国际上用量最大、发展最快的片式元件之一。随着移动通信设备的发展，对高性能MLCC的需求与日俱增，MLCC不断向微型化、高叠层、大容量化、高可靠性和低成本化方向发展，这对原材料、工艺设备及工艺技术提出了很大的挑战。那么使用过程中也会碰到容值偏低的问题，小编现在就容值偏低问题与各位探讨一下。

电容的种类有很多，不同的电容在电路中的作用不一样。它在电子设备中充当整流器的平滑滤波、电源的退耦、交流信号的旁路、交直流电路的交流耦合等作用。

正常情况下，MLCC在是存在老化问题，但其容值损失也不会超过90%，一般是两年后容值有10%-20%的递减。MLCC在耐压测试后损耗显着增大主要有两方面原因：一是电容的温度在经过耐压测试后变高了，电容发热会减小容量。二是在高电压的测试下，陶瓷内部微小分子单元结构轻微发生变化(比如形成微小的电流通道)，容值会出现变小的现象。